Ճաղարյան, Գրիգոր Արշակի

Ինֆորմատիկա

Աշխատությունը նվիրված է նանոչափական հիշող սարքերում առաջացող անսարքությունների մոդելավորման արդյունավետ մեթոդների մշակմանը և դրանց հիման վրա թեստային ալգորիթմների կառուցմանը։ Հեղինակը ուսումնասիրում է բարձր խտությամբ հիշող համակարգերում սխալների առաջացման ֆիզիկական և տրամաբանական պատճառները՝ ընդգծելով նանոմաշտաբի տեխնոլոգիաներին բնորոշ անկայունությունները, աղմուկը և դեգրադացիոն գործընթացները։ Գրքում ներկայացվում են անսարքությունների մոդելավորման մաթեմատիկական մոտեցումներ, որոնք թույլ են տալիս նկարագրել բիթային սխալների, կարճ միացումների և բաց շղթաների առաջացումը հիշող բջիջներում։ Հատուկ ուշադրություն է դարձվում թեստային ալգորիթմների նախագծմանը՝ ուղղված սխալների հայտնաբերման և տեղորոշման արդյունավետության բարձրացմանը, ինչպես նաև փորձարկման ժամանակի և ռեսուրսների օպտիմալացմանը։ Հեղինակը առաջարկում է ծրագրային համակարգի ճարտարապետություն, որը ապահովում է մոդելավորման, սիմուլյացիայի և ավտոմատ թեստավորման գործընթացների ինտեգրումը մեկ միջավայրում։