Ժամկոչյան, Սիմոն Վահանի

Մաթեմատիկա

Այս թեման վերաբերում է այն բարձր զգայունության դետեկտորներին, որոնք հիմնված են երկրորդային էլեկտրոնային էմիսիայի (secondary electron emission) երևույթի վրա և նախատեսված են չափազանց կարճ ժամանակային գործընթացների գրանցման համար՝ պիկոսեկունդային և ենթապիկոսեկունդային (sub-picosecond) լուծաչափով։ Երկրորդային էլեկտրոնային էմիսիան տեղի է ունենում, երբ բարձր էներգիայով մասնիկը կամ ֆոտոնը բախվում է նյութի մակերեսին և առաջացնում է լրացուցիչ էլեկտրոնների արտանետում, որոնք կարող են օգտագործվել որպես ազդանշանի կրիչներ։ Այս սկզբունքի վրա կառուցված դետեկտորներում առաջնային ազդանշանը փոխակերպվում է երկրորդային էլեկտրոնների հոսքի, որը հետո ուժեղացվում և գրանցվում է շատ բարձր ժամանակային ճշգրտությամբ։ Պիկոսեկունդային և ենթապիկոսեկունդային լուծաչափ ստանալու համար կիրառվում են հատուկ արագ էլեկտրոնային բազմապատկիչներ, միկրոքանալային թիթեղներ (MCP), արագ էլեկտրական դաշտեր և ցածր իներտության նյութեր, որոնք նվազեցնում են ազդանշանի տարածման և հավաքման ժամանակային ուշացումները։