Պատրաստի նյութեր

Աշխատությունը նվիրված է կիսահաղորդչային կառուցվածքներում առաջացող ցածր հաճախականային աղմուկների հետազոտությանը, դրանց ֆիզիկական բնույթին, առաջացման մեխանիզմներին և էլեկտրոնային սարքերի աշխատանքի վրա ունեցած ազդեցությանը։ Ուսումնասիրության հիմքում ընկած է այն խնդիրը, որ կիսահաղորդչային տարրերում էլեկտրական ազդանշանների հետ մեկտեղ առաջանում են պատահական տատանումներ, որոնք կարող են սահմանափակել չափումների ճշգրտությունը, ազդանշանների կայունությունը և սարքերի հուսալիությունը։ Հատուկ ուշադրություն է դարձվում ցածր հաճախականությունների տիրույթում դիտվող աղմուկային երևույթներին, այդ թվում՝ ֆլիկերային կամ 1/f աղմուկին, որը հատկապես կարևոր է զգայուն էլեկտրոնային և միկրոէլեկտրոնային համակարգերի համար։ Աշխատանքում ուսումնասիրվում են աղմուկի առաջացման հնարավոր աղբյուրները՝ կապված կիսահաղորդչային նյութի հատկությունների, բյուրեղային կառուցվածքի արատների, մակերևութային և միջերեսային վիճակների, լիցքակիրների շարժման ու թակարդման-ազատման գործընթացների հետ։ Հետազոտության կարևոր ուղղություններից է աղմուկի պարամետրերի փորձարարական չափումը և դրանց կախվածության ուսումնասիրությունը տարբեր արտաքին ու ներքին գործոններից, ինչպիսիք են հոսանքի ուժը, լարումը, ջերմաստիճանը, հաճախականությունը և կառուցվածքի երկրաչափական առանձնահատկությունները։ Նման վերլուծությունը հնարավորություն է տալիս պարզելու, թե կիսահաղորդչային կառուցվածքի որ ֆիզիկական հատկություններն են առավել էական աղմուկի մակարդակի ձևավորման համար։ Աշխատանքում կարող են դիտարկվել նաև աղմուկի սպեկտրային խտության, հաճախականային կախվածության և վիճակագրական բնութագրերի գնահատման մեթոդները, որոնք հնարավորություն են տալիս ավելի ամբողջական պատկերացում կազմել ուսումնասիրվող կառուցվածքներում ընթացող պատահական գործընթացների մասին։ Հատուկ նշանակություն ունի ցածր հաճախականային աղմուկի և սարքի տեխնոլոգիական ու կառուցվածքային պարամետրերի միջև կապի բացահայտումը, քանի որ այդպիսի տվյալները կարող են կիրառվել կիսահաղորդչային սարքերի նախագծման և արտադրության կատարելագործման նպատակով։ Ցածր հաճախականային աղմուկների ուսումնասիրությունը կարևոր է հատկապես ինտեգրալ սխեմաների, ուժեղացուցիչների, սենսորների, դետեկտորների և այլ բարձր զգայունությամբ էլեկտրոնային համակարգերի համար, որտեղ նույնիսկ փոքր աղմուկային բաղադրիչները կարող են էապես ազդել սարքի աշխատանքի որակի վրա։ Աշխատանքի գիտական արժեքը կայանում է կիսահաղորդչային կառուցվածքներում աղմուկային երևույթների ֆիզիկական մեխանիզմների բացահայտման և դրանց քանակական բնութագրման մեջ, իսկ գործնական նշանակությունը՝ աղմուկի նվազեցման և սարքերի պարամետրերի բարելավման հնարավորությունների ուսումնասիրության մեջ։ Այն կարող է օգտակար լինել կիսահաղորդչային ֆիզիկայով, միկրոէլեկտրոնիկայով, էլեկտրոնային սարքաշինությամբ, չափիչ տեխնիկայով և նանոէլեկտրոնիկայով զբաղվող մասնագետների, հետազոտողների և ուսանողների համար։ Ընդհանուր առմամբ, աշխատանքը հնարավորություն է տալիս խորությամբ ուսումնասիրելու կիսահաղորդչային համակարգերում պատահական էլեկտրական տատանումների բնույթը և գնահատելու դրանց նշանակությունը ժամանակակից էլեկտրոնային սարքերի աշխատանքի ու տեխնոլոգիական կատարելագործման տեսանկյունից։