Հեղինակի գրքերը (1)
Տեխնոլոգիա
Development of tools increasing quality assurance efficiency for built-in self-test solutions in nanoscale soc
Այս աշխատանքը նվիրված է նանոմաշտաբային համակարգ-չիպերի (SoC) մեջ ներկառուցված ինքնաթեստավորման (Built-In Self-Test, BIST) լուծումների որակի ապահովման արդյունավետության բարձրացման համար գործիքների և մեթոդների մշակմանը՝ հաշվի առնելով ժամանակակից միկրոէլեկտրոնային տեխնոլոգիաների բարդությունը, խտության աճը և սխալների նկատմամբ զգայունության բարձրացումը։ Հեղինակը վերլուծում է BIST ճարտարապետությունների հիմնական սկզբունքները՝ ընդգծելով դրանց դերը արտադրական և գործառնական փուլերում սխալների հայտնաբերման, ախտորոշման և վավերացման գործընթացներում։ Առանձնահատուկ ուշադրություն է դարձվում նանոմաշտաբային տեխնոլոգիաներում առաջացող խնդիրներին՝ ներառյալ տրանզիստորային տատանումները, արտահոսքային հոսանքները, դելեյի փոփոխականությունը և soft-error-ների աճը, որոնք բարդացնում են ավանդական թեստավորման մեթոդների արդյունավետությունը։
Թարմացվել է՝ 2026-06-23